[재료工學experiment(실험)] AES, EDX, RBS
페이지 정보
작성일 23-02-11 15:21
본문
Download : AES, EDX, RBS.hwp
auger
(2)Auger Spectra : 점 또는 면에 존재하는 원소의 정성, 정량分析(분석) 가능.
수백 Angstrom크기로 집속된 electron beam을 재료표면에 입사시켜 방출되는 Auger 전자의 에너지를 측정(測定) 하여 재료 표면을 구성하고 있는 원소의 종류 및 양을 分析(분석)해내는 표면 分析(분석) 장치.
- 정성분(成分)석 : 에너지별 전자 신호 강도 N(E)를 측정(測定) 하여 원소별 Auger속성 피크를 확인하여 원소의 종류를 알 수 있음.
재료분석기기에 대한 설명 수록
시료표면에 에너지가 큰 불활성기체로부터 발생시킨 양이온(Ar+)을 충돌시킴으로써 표면을 분당 수~수십Å까지의 깊이에 따른 조성변화와 화학적 상태변화를 分析(분석)하는 방법. 이온 식각은 Ion gun에 의하며, 보통 computer에 의해 자동적으로 이온 식각과 스펙트럼 측정(測定) 을 순차적으로 진행시키면서 결과를 얻음.
1. Auger Electron Spectroscopy (AES)
설명
- 정량分析(분석) : 원소별로 Auger 속성 피크를 포함하는 에너지 범위를 설정하여 N(E)를 측정(測定) 하고 원소별 감도인자(element sensitivity factor)를 고려하여 원소별 조성비를 얻을 수 있음.
레포트 > 공학,기술계열
(1)Auger Image Mapping : 이차원 표면에 존재하는 특정원소의 분포상황을 보여주는 것으로 electron analyzer의 에너지 범위를 分析(분석)하고자 하는 원소의 Auger 속성 에너지값을 포함하도록 설정한 후 전자빔을 分析(분석)면에 주사시켜 위치별로 감지된 Auger속성 피크의 신호경도에 따른 명암 차이로 나타내는 것
Download : AES, EDX, RBS.hwp( 72 )
(3)수직분포 分析(분석)(Depth Profiling)
재료analysis기기에 대한 설명(explanation) 수록
[재료工學experiment(실험)] AES, EDX, RBS
순서
다.
